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表面污染检测仪 XC/DH803-Ⅱ
表面污染检测仪采用单片机控制,LCD液晶显示,读数清晰、操作方便。仪器采用进口薄窗盖革探测器,具有较高的探测效率,适用于α、β辐射表面污染检测,X、γ辐射剂量率的监测。该检测仪是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行α、β辐射表面污染检测或X、γ辐射防护监测的理想仪器。表面污染检测仪 XC/DH803-Ⅱ
功能特点 表面污染检测仪 XC/DH803-Ⅱ
采用进口薄型盖革探测器,探测效率高;
可测量α、β、γ、X射线;
探测和测定表面沾污;
调查环境污染;
测定惰性气体及其他低能放射性核素;
建筑装饰材料放射性测定;
超阈值报警;
声响频率指示放射性强度;
可设置剂量率报警阈值;
便携式,一体化设计,质量轻;
超低功耗设计;
LCD液晶显示,会话式操作界面;
计数率显示CPM、CPS、μSv/h;
在操作放射性核素时监测可能存在的放射性暴露量;
阻塞报警;
电池失效报警。
技术指标 表面污染检测仪 XC/DH803-Ⅱ
测量范围:CPM为0~300 000,CPS为0~5 000,µSv/h为0.01~1 000
探测器:MCA窗式盖革计数管(进口),有效直径为45 mm;
探测效率:Sr-90(546 keV,2.3 MeV βmax)约75%,Am-241(5.5 MeV α)约36%
灵 敏 度: 3500 CPM/ mR/hr(对于Cs-137)
仪器本底:每分钟计数≤60 CPM
相对基本误差:≤15%
供电电源:2节普通5号电池或充电电池
功耗:整机功耗约8 mW,电流≤4 mA
温度范围:相对湿度≤90%(40℃)
尺寸质量:0.3 kg;135 mm×70 mm×25 mm
1.一年质保,终身维护。 表面污染检测仪 XC/DH803-Ⅱ
2.在质保期内,除人为因素外,任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、
故障我们免费修理或更换。
3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后,十分钟内回应。
4.保证及时向用户以最优惠的价格提供所需的备品备件和易损件。
- 询价产品:表面污染检测仪 XC/DH803-Ⅱ XC/DH803-Ⅱ
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