日立HITACHI双光束紫外可见分光光度计 镀层厚度和成分测量分析仪EA1400
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仪表展览网>产品库>HITACHI日立
价格: 面议
产品型号:镀层厚度和成分测量分析仪EA1400
公司名称:美萨科技(苏州)有限公司
地:江苏苏州
发布时间:2024-04-13
美萨科技(苏州)有限公司
产品简介
HITACHI日立是一家全球性的日立公司,通过互联材料分析解决方案帮助我们的客户变得更加成功和可持续,这些解决方案使生产和开发过程更加高效、自动化和绿色,以确保产品质量、**性和合规性。我们提供实验室级和强大高性能现场检测设备如光电直读光谱仪、X射线荧光光谱(XRF)、X荧光测厚仪(镀层测厚仪)、激光诱导击穿光谱仪(LIBS)、热分析仪、锂电池异物分析仪、油品分析仪、土壤分析仪等。
产品详情

HITACHI日立EA1000AIII和EA1400 XRF分析仪专为RoHS(有害物质限制)设计,15年来一直受到信任,为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量,您可以确保能够满足环境法规的要求。在专用RoHS分析的EA1000系列和RoHS、镀层和元素分析的EA6000范围之间进行选择。



为什么选择日立 XRF RoHS 分析仪?
操作方便

自动采样

灵活校准以适应新的RoHS标准

自动突出显示您正在分析的内容以获得可浏览的结果

快速测量

大样品舱满足各种样品

视听测量指示器

添加镀层和元素分析的选项


EA1000AIII

探测器:硅半导体检测器(无需液氮)

塑料中Cd、Pb、Hg、Br、Cr的测量时间*:小于70秒

高浓度BrSb塑料中Cd、Pb、Hg、Cr的测量时间*:小于230秒

元素范围:Al(13)至U(92)

样品状态:固体/粉末/液体

测量面积:1 mmφ、3 mmφ、5 mmφ(电动开关)

样品舱:宽370×深320×高120毫米

过滤器:5个位置

样品观察:CCD全彩摄像机

操作:台式机的笔记本电脑


EA1400

探测器:SSD(无需液氮)

元素范围:Al(11)至U(92)

样品状态:固体/粉末/液体

测量面积:1 mmφ、3 mmφ、5 mmφ(电动切换)

样品舱:宽304×深304×高110毫米

过滤器:4款,5种模式,自动切换

样品观察:CCD全彩摄像机

操作:台式机电脑


EA6000VX

探测器:高分辨率SDD

元素范围:Mg-U(使用氦吹扫时为Mg-U)

样品舱设计:封闭式

XY 轴样品台选择:自动台

* 大样品尺寸:270 x 220 x 150 毫米

* 大数量准直器:4

滤光片:6 种模式自动切换

*小的准直器:0.2 毫米

X-ray Station & Mapping Station 软件


*注:总测量时间是指达到统计误差(3西格玛)所需的时间,Cd为20ppm,其他元素为100ppm(在日立推荐的条件下测量)。


产品优势
●灵活校准以适应新的RoHS标准
●自动突出显示您正在分析的内容以获得可浏览的结果
●快速测量
●大样品舱满足各种样品


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