525系列-表面粗糙度和轮廓测量仪SV-C3200/SV-C4500

525系列-表面粗糙度和轮廓测量仪特点：

表面粗糙度测量功能：

1.       高分辨力型Z1轴检出器作为标准件提供。Z1轴的最高显示分辨力为0.0001μm（测量范围为8μm时）。

2.       X轴内置高精度玻璃光栅尺，直接读取X轴移动距离，在搞精度精准定位下，完成间距参数的评价。

3.       检出器测力有4mN和0.75mN可选。

轮廓测量功能：

1.       Z1轴（检出器）上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹，以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比，新测臂使Z1轴测量范围增大了10mm,同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件，单此接触就能完成测臂的装卸，提高了易用性。

2.       专为SV-C-4500系统增加了以下两大特性作为轮廓测量系统的专用功能。

①     装配双锥面测针，实现垂直方向（上/下）连续测量，所获取的数据实现简单分析以往难以测量得内螺纹有效直径。

②     测力可在FORMTRACEPAK软件中设置。无需调整配重。

3.       卓越的表面粗糙度/轮廓FOTMTRACEPAK分析程序，通过简单的操作就能进行高级分析并即刻输出结果。

4.       表面粗糙度测试仪和轮廓度测量仪结合在一起，节省安装空间。