Felles 光学薄膜测厚仪 FR-EDU

Felles 光学薄膜测厚仪是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，Felles 光学薄膜测厚仪也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。

Felles 光学薄膜测厚仪特点

基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，

是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k).

到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。

Web: www.felles.cn                    （激光光学精密仪器官网）
         www.felles.cc                     （综合性尖端测试仪器官网）
   www.f-lab.cn     （综合性实验室仪器官网）

Felles 光学薄膜测厚仪标准参数
可测膜厚： 100nm-30微米；
波长范围: 300-1000nm
探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D
精度：1%
斑点大小：0.5mm
光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)
所测样品大小：10-150mm,
计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；
尺寸：320x360x180mm
重量：9.2kg

Felles 光学薄膜测厚仪应用
用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，
用于化学和生物薄膜测量，传感测量
用于光电子薄膜结构测量
用于半导体制造
用于聚合物薄膜测量
在线薄膜测量
光学薄膜厚度测量仪用于光学镀膜测量

Web: www.felles.cn （激光光学精密仪器官网） www.felles.cc （综合性尖端测试仪器官网） www.f-lab.cn （综合性实验室仪器官网）

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