变频抗干扰介质损耗测试仪变频测量-仪表展览网
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变频抗干扰介质损耗测试仪变频测量
2011/8/9 16:47:47
浏览:982

  干扰十分严重时,变频测量能得到准确可靠的结果。例如用55Hz测量时,测量系统只允许55Hz信号通过,50Hz干扰信号被有效抑制,原因在于测量系统很容易区别不同频率,由下述简单计算可以说明选频测量的效果:

  两个频率相差1倍的正弦波叠加到一起,高频的是干扰,幅度为低频的10倍:

  Y=1.234sin(x+5.678°)+12.34sin(2x+87.65°)

  在x=0/90/180/270°得到4个测量值

  Y0=12.4517,Y1= -11.1017,Y2=12.2075,Y3= -13.5576,

  计算A=Y1 - Y3=2.4559,B=Y0 - Y2=0.2442,则:

  φ=tg-1(B/A)=5.678° V= A2+B2 / 2=1.234

  这刚好是低频部分的相位和幅度,干扰被抑制。实际波形的测量点多达数万,计算量很大,结果反映了波形的整体特征。

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