新中国仪器仪表自主研发史（实验室仪器篇）

2009/9/14 0:00:00

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清光绪三十一年（1905年），清政府在京建立“权度制作所”，开始制造简单的度量衡器具。
到1949年，北京已能制造简易天平。
1955年，北京度量衡厂试制成功200型分析天平。最大称量200克，感量0.4 毫克。1957年，试制成功1－200型光学天平。最大称量200克，分度值0.1毫克。
1958年，该厂试制成功WT2型微量分析天平。最大称量20克，分度值0.01毫克。 1964年1月，北京光学仪器厂研制成功精度达百万分之一克的GZT3－2型精密天平。最大称量2克，分度值0.001毫克，游标微读0.0001毫克。
1975年，北京光学仪器厂同中国计量科学研究院合作研制成功BDT2－1型电子微量天平。最大称量2克，分辨率0.5微克。
1986年，该厂同北京光电技术研究所合作研制成功MD200－1型上皿电子天平。最大称量200克，电称量范围20克／1毫克、200克／10毫克。

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