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Defelsko N1非磁性涂层测厚仪 Defelsko N1笔式涂层测厚仪
Defelsko N1非磁性涂层测厚仪 Defelsko N1笔式涂层测厚仪:连体式探头,可测有色金属上的绝缘涂层厚度。
用户可以根据测量的需要选用不同的测厚仪,磁性测厚仪和涡流测厚仪一般测量的厚度适用0-5毫米,这类仪器又分探头与主机一体型,探头与主机分离型,前者操作便捷,后者适用于测非平面的外形。更厚的致密材质材料要用超声波测厚仪来测,测量的厚度可以达到0.7-250毫米。电解法测厚仪适合测量很细的线上面电镀的金,银等金属的厚度。
Defelsko N1非磁性涂层测厚仪 Defelsko N1笔式涂层测厚仪技术参数: