X荧光光谱仪SDEDX600型使用高效而实用的正比计数盒探测器，满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，加上全软件控制的自动调整移动平台和切换准直器的装置，使仪器操作更人性化、更方便。以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来能满足贵金属成分检测的需要。
X荧光光谱仪SDEDX600型用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测及金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
一、X荧光光谱仪SDEDX600型的特点：
1、专业贵金属检测、镀层厚度检测。
2、内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上。
3、一次可同时分析24个元素；
4、针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
5、电制冷硅针半导体探测器，摒弃液氮制冷。
6、智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。
7、任意多个可选择的分析和识别模型。
8、相互独立的基体效应校正模型。
9、多变量非线性回收程序。
二、X荧光光谱仪SDEDX600型的技术参数：
1、输入电压：220±5V（建议配置交流净化稳压电源）。
2、环境温度:15℃—30℃
3、环境湿度：35%—70%
4、外形尺寸：500 mm×400mm×400mm
5、重量：30.5Kg
6、元素分析范围：从钠（Na）到铀（U）。
7、测量对象：固体、液体、粉末
8、分析检出限可达：1ppm。
9、分析含量一般为：1ppm到99.9％。
10、多次测量重复性可达：0.1％。
11、长期工作稳定性为：0.1％。
三、X荧光光谱仪SDEDX600型的配置：
1、单样品腔。
2、二维软件控制自动移动样品平台。
3、激光定位装置。
4、准直器自动切换装置。
5、正比计数盒探测器。
6、信号检测电子电路。
7、高低压电源。
8、X光管。