X荧光光谱仪\XRF仪器、XRF设备，X荧光光谱ROHS检测仪、X荧光光谱仪测ROHS

对应《电子信息产品污染控制管理办法》
RoHS 及ELV指令玩具中有害重金属的检测
无铅焊锡分析、无卤化分析

配备对由于测量样品形状、厚度和材料产生的影响减小到最低的修正标准装置，并且对塑料制品中的镉、铅等有害物质无需前期处理，进行简单迅速的测量，另外还适用于测量大量的供应品。

技术指标

元素分析范围从硫(S)到铀(U)
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
多次测量重复性可达0.1％(含量96％以上)
长期工作稳定性为0.1％(含量96％以上)
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：160±5eV
样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
仪器尺寸：550mm×410mm×320mm
仪器重量：45kg

标准配置

移动样品平台
信噪比增强器
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机

应用领域

RoHS检测分析、X荧光光谱仪测ROHS
地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测