谷物品质图像分析系统 GE
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仪表展览网>产品库>农产品质量安全快速检测仪
价格: $100000.00
产品型号:GE
品牌:2562472
公司名称:成都贝斯达仪器有限公司
地:四川成都
发布时间:2011-07-07
成都贝斯达仪器有限公司
产品简介
GE 谷物品质图像分析系统 1. 稻谷:未熟粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒。识别准确率≥95% 2. 小麦:破损粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒。识别准确率≥95% 3. 玉米:破损粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒、热损伤粒。识别准确率≥95%
产品详情

GE 谷物品质图像分析系统
      应用图像自动分析系统测定谷物杂质和不完善粒的检测设备。适用于各类谷物的检测。该系统集计算机技术与图像处理技术于一体,通过CCD摄像机、进料机构、驱动机构和出料机构以及图像自动采集系统,经图像处理和BP神经网络的分类算法,达到对于标准麦、破损麦和异种粮霉变粮的自动识别。
主要性能指标:
      1. 稻谷:未熟粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒。识别准确率≥95%
      2. 小麦:破损粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒。识别准确率≥95%
      3. 玉米:破损粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒、热损伤粒。识别准确率≥95%
      4. 大米:垩白粒率、粒型、黄粒米、垩白度。识别准确率≥95%

 

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