--焊料合金成分分析和镀层厚度测量  
--电子产品中金和钯镀层的厚度测量  
--五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量  

产品特点:  XRF镀层测厚仪
--100瓦X射线管  
--25mm2PIN 探测器  
--多准直器配置  
--扫描分析及元素分布成像功能  
--超大样品舱  
--同时分析元素含量和镀层厚度  

技术参数:  
--元素范围:S(16) to U(92)  
--可测镀层层数:5 层 (4 层+ 底材),可同时分析25种元素成份  
--X射线管功率:100W (50kV and 2mA)微焦点钨靶X射线管  
--探测器:25mm2 PIN 电制冷固态探测器  
--滤波器/准直器:最多可包含5个初级滤波器和4个准直器规格 (0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm Ø)  
--数字脉冲处理器:4096多道数据分析功能;自动数据处理,包括死时间修正  
--电脑/显示器/系统软件  
  Celeron, 1.86 GHz,  40 GbHD, 512Mb RAM, 相同或更高配置  
  15”LCD, 1024 x 768  
  MicrosoftTM XP SP2  
--摄像系统:1/2” CMOS-640x480 VGA resolution  
--电源:85~130V or 215~265 V, 频率47Hz to 63Hz   
--工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水  
--XYZ轴行程:  203 x 152 x 216 mm (8 x 6 x 8.5”)  
--最大样品尺寸  
  305 x 390 mm (12 x 15.4”)，样品高度为  50mm (2”)  
  305 x 352 mm (12 x 13.9”)，样品高度为 203mm (8”)   
--舱室尺寸:   (W x D x H):584 x 508 x 220mm (23 x 20 x 8.7”)  
--外型尺寸  
  高765mm (30.1”)  
  宽 700mm (27.5”), 840mm (5.5”) with one mouse pad extended  
  深790mm (31.1”), 990 mm (39”) with keyboard tray extended  
--重量: 135 kg