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用于电子元器件,半导体,PCB,端子连接器,LED支架和封装,汽车零部件,卫浴洁具,功能性电镀,装饰件,检测机构和高校……多个行业表面镀层厚度的测量
技术参数
主要规格 |
规格描述 |
X射线激发系统
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垂直上照式X射线光学系统 |
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗 |
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标准靶材:W靶 |
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功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准 |
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装备有安全防射线光闸 |
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二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 |
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准直器程控交换系统
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最多可同时装配6种规格的准直器 |
多种规格尺寸准直器任选: -圆形,如4、6、8、12、20 mil等 -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 |
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测量斑点尺寸
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在12.7mm聚焦距离时,最小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) |
在12.7mm聚焦距离时,最大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) |
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样品室 |
CMI900 |
-样品室结构 |
开槽式 |
-最大样品台尺寸 |
610mm x 610mm |
-XY轴程控移动范围 |
标准:152.4 x 177.8mm ;还有5种规格任选 |
-Z轴程控移动高度 |
43.18mm |
-XYZ三轴控制方式 |
多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 |
-样品观察系统 |
高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍 |
激光自动对焦功能 |
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可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 |
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计算机系统配置 |
联想计算机 彩色喷墨打印机 |
分析应用软件 |
操作系统:Windows7中文平台 ;分析软件包:SmartLink FP软件包 |
-测厚范围 |
可测定厚度范围:取决于您的具体应用。 |
-基本分析功能 |
采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。 |
样品种类:镀层 |
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可检测元素范围:Ti22 – U92 |
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可同时测定5层/15种元素/共存元素校正 |
贵金属检测,如Au karat评价 |
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材料和合金元素分析, |
材料鉴别和分类检测 |
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多达4个样品的光谱同时显示和比较 |
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元素光谱定性分析 |
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-调整和校正功能 |
系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移 |
-测量自动化功能 |
鼠标激活测量模式:“Point and Shoot” |
多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式 |
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测量位置预览功能 |
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激光对焦和自动对焦功能 |
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-样品台程控功能 |
设定测量点 |
连续多点测量 |
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测量位置预览(图表显示) |
-统计计算功能
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平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 |
数据分组、X-bar/R图表、直方图 |
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数据库存储功能 |
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任选软件:统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 |
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-系统安全监测功能 |
Z轴保护传感器 |
样品室门开闭传感器 |
X射线荧光镀层测厚仪
精度高、稳定性好
强大的数据统计、处理功能
测量范围宽
NIST认证的标准片
全球服务及支持
- 询价产品:X射线荧光镀层测厚仪 CMI900
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