X射线荧光镀层测厚仪 CMI900
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仪表展览网>产品库>膜厚仪/镀层测厚仪/镀层厚度检测仪
价格: 面议
产品型号: CMI900
品牌:2532939
公司名称:三翔分析仪器
地:广东深圳
发布时间:2015-03-17
三翔分析仪器
产品简介
X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量 ,从质量管理到成本节约有着广泛的应用
产品详情
 X射线荧光镀层测厚仪应用行业

用于电子元器件,半导体,PCB,端子连接器,LED支架和封装,汽车零部件,卫浴洁具,功能性电镀,装饰件,检测机构和高校……多个行业表面镀层厚度的测量

技术参数

主要规格

规格描述

X射线激发系统

 

垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管,Be窗

标准靶材:W靶

功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准      

装备有安全防射线光闸

二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选

准直器程控交换系统

 

最多可同时装配6种规格的准直器

多种规格尺寸准直器任选: -圆形,如4、6、8、12、20

mil等 -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等    

测量斑点尺寸

 

在12.7mm聚焦距离时,最小测量斑点尺寸为:0.078 x

0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)

在12.7mm聚焦距离时,最大测量斑点尺寸为:0.38 x

0.42 mm(使用0.3mm准直器)

样品室

CMI900

-样品室结构

开槽式

-最大样品台尺寸

610mm x 610mm

-XY轴程控移动范围

标准:152.4 x 177.8mm ;还有5种规格任选

-Z轴程控移动高度

43.18mm

-XYZ三轴控制方式

多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制

-样品观察系统

高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍

激光自动对焦功能

可变焦距控制功能和固定焦距控制功能

计算机系统配置

联想计算机 彩色喷墨打印机

分析应用软件

操作系统:Windows7中文平台 ;分析软件包:SmartLink FP软件包

-测厚范围

可测定厚度范围:取决于您的具体应用。

-基本分析功能

采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。

样品种类:镀层

可检测元素范围:Ti22 – U92

 

   

可同时测定5层/15种元素/共存元素校正

贵金属检测,如Au karat评价

 

   

 

材料和合金元素分析,

材料鉴别和分类检测

多达4个样品的光谱同时显示和比较

元素光谱定性分析

-调整和校正功能

系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移

-测量自动化功能

鼠标激活测量模式:“Point and Shoot”

多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式

测量位置预览功能

激光对焦和自动对焦功能

-样品台程控功能

设定测量点

连续多点测量

测量位置预览(图表显示)

-统计计算功能

 

平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图

数据分组、X-bar/R图表、直方图

数据库存储功能

任选软件:统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书

-系统安全监测功能

Z轴保护传感器

样品室门开闭传感器

X射线荧光镀层测厚仪 

精度高、稳定性好

强大的数据统计、处理功能

测量范围宽

NIST认证的标准片

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