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Positest DFT美国DEFEISKO狄夫斯高膜厚计DFT
美国狄夫斯高DeFelsko测厚仪PosiTest DFT
美国狄夫斯高DeFelsko|POSITEST DFT
采用磁性及涡流原理测量磁性基体上非磁性涂层的厚度或有色金属基体上不导电涂层的厚度只需一个内置测头。为无损测量,快速重复测量,精度为读数的3%,量程0-1000微米;自动校对,自动复位到出厂时设置,公英制转换等功能。测头耐酸、耐油、耐有机溶液及灰尘;仪器重70克;外形尺寸100X38X23mm;附有标准片及皮包,中、英文操作说明书,碱性电池。符合ISO2178/2360/2808、ASTM B244 、B499、B659、等标准。
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