CH-1-S薄膜测厚仪
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价格: 面议
产品型号:CH-1-S
品牌:2746622
公司名称:深圳市精兆丰科技有限公司
地:广东深圳
发布时间:2011-09-03
深圳市精兆丰科技有限公司
产品简介
CH-1-S薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
产品详情
CH-1-S薄膜测厚仪主要参数
1. 量程:0-1mm 分度值:0.001mm
2. 上测头曲率半径:15-50mm
3. 测头对试样施加负荷我:0.1-0.5N
4. 测量精度:100vm以内<1vm
             100-250vm<2vm
             250vm<3vm

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