晶体管图示仪 TCT-2004 TCT-2003

TCT-2004 TCT-2003晶体管图示仪，半导体晶体管图示仪

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TCT-2003晶体管图示仪

TCT-2003峰值电源,模式:AC、全波整流、DC

TCT-2003电压0～2kV

TCT-2003垂直轴集电极电流2nA～2A(×1、×0.1)

TCT-2003水平轴集电极电流50mV～200V(×1、0.1)

TCT-2004晶体管图示仪

是测试半导体静·动特性的高灵敏度多功能的曲线测试仪。标准装备数字存储功能，可显示静止波形。集电极*大可印加±2KV，电流灵敏度*大为100pA/DIV，可高**度地测试各种半导体

TCT-2004峰值电源,模式:AC、全波整流、DC

TCT-2004电压0～2kV

TCT-2004垂直轴集电极电流1μA～5A(×1、×0.1)

TCT-2004水平轴集电极电流50mV～500V(×1、0.1)

SCT-2FR晶体管图示仪

SCT-2FR 是可直接观看各种二极管、硅双向开关管(SSS)的特性曲线的图试仪。电流轴和电**的放大采用高性能回路，可高精度地观察急剧变化特性的半导体

SCT-2FR峰值电源,模式:AC、半波整流

SCT-2FR电压0～2kV

SCT-2FR垂直轴集电极电流0.1μA～2A/DIV

SCT-2FR水平轴集电极电流0.1V～200V/DIV

SCT-5FR晶体管图示仪

SCT-5FR峰值电源,模式:AC、半波整流

SCT-5FR电压0～5kV

SCT-5FR垂直轴集电极电流1μA～2A/DIV

水平轴集电极电流0.1V～500V/DIV

SCT-10F晶体管图示仪

SCT-30B半导体特性曲线仪

SCT-15G特性曲线图示仪

半波整流
重复扫描
1.5.10/SEC连续·单次

标准装备数字存储功能，可右管面确认各种参数的测试条件

比较和显示基准波形与各被测的波形

内藏可保存16个品种数据的存储器、FDD

TCT2004观察晶体管、FET、可控硅、UJT、二极管、IC等各种半导体静特性曲线的图示仪，kdk将这些图示仪分为TCT和SCT系列。与切换印加电压所测得各点特性值的常数测试仪、特性测试仪相比，图示仪可一目了然地观测众多的特性，从特性曲线上简单地了解任意一点的特性值。图示仪可观擦由扫描电源印加电压，与连续产生变化的电流之间的特性曲线，因此可简单地测试电压电流呈非直线变化的半导体和其他电子部品的电压电流特性。 TCT系列采用阶梯波发生器使参数发生变化，由特性曲线群可容易地了解器件的普遍特性。晶体管、 FET的测试需要将接地点作为基准点印加阶梯波，器件的一端为接地，在扫描电源的返回侧插入检出电流的电阻(TCT-2003除外) 各机型基本上由扫描电源、电压检出·放大器、串联电阻器、视像管组成