理学Ultima IV型组合式多功能X射线衍射仪是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。

仪器主要特点：

1、快速

　　Ultima IV是多功能X射线衍射仪的先进代表。他结合了理学公司专利的可永不拆卸CBO技术，永久对准，平行光与聚焦光灵活转换，Ultima IV X射线衍射仪可快速执行多种不同测量。

2、灵活

　　The Ultima IV 是当今市场唯一采用全自动校准的X射线衍射仪。CBO技术与自动校准相结合，使Ultima IV X射线衍射仪成为多功能应用的最灵活系统。

3、实用

　　在Ultima IV XRD系统中，CBO技术缩短了切换测角仪时花费的时间，使日常用户可以运行两组试验而无需重新设置系统，可以减少经常切换造成的磨损和光路损坏。

　　CBO与自动校准相结合后功能如下：

●粉末衍射

●薄膜衍射

●小角散射

●In-plane散射

仪器技术参数：
1、X射线发生器功率为3KW
2、测角仪为水平测角仪
3、测角仪最小步进为1/10000度
4.、测角仪配程序式可变狭缝
5、高反射效率的石墨单色器
6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）
7、小角散射测试组件
8、多用途薄膜测试组件
9、微区测试组件
10、In-Plane测试组件（理学独有）
11、高速探测器D/teX-Ultra
12、X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC
13、分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等

仪器应用领域：
1、粉末样品的物相定性与定量分析
2、计算结晶化度、晶粒大小
3、确定晶系、晶粒大小与畸变
4、Rietveld定量分析
5、薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
6、In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7、小角散射与纳米材料粒径分布
8、微区样品的分析

9、智能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域

10、可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料

11、可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品