强力转靶组合式多功能X射线衍 TTRAX III

理学TTRAX III型强力转靶组合式多功能X射线衍射仪是世界上最强大的θ/θ X射线衍射仪。该系统特点是为最严格的应用配置了18 kW 转靶发生器。薄膜衍射和粉末材料痕量物相都得益于TTRAX III的高能量光源。多功能θ/θ设计结合CBO技术和独立的in-plane 散射轴提供了最广泛的应用而系统无需重新配置。试验能力包括标准粉末衍射，掠入射衍射，in-plane 衍射，X射线反射率和小角X射线散射（SAXS）。TTRAX III具有广泛的可选附件提供了最大的灵活性。

仪器主要特点：

1、θ/θ设计为样品可以水平放置

2、18 kW转靶发出高强度X射线源

3、CBO技术使聚焦光与平行光自动切换无需重新配置

4、In-plane衍射臂用于in-plane测量无需重新配置

5、高分辨光路系统

6、SAXS能力

仪器技术参数：
1、X射线发生器功率为旋转阳极强力转靶18KW
2、测角仪为水平测角仪
3、测角仪最小步进为1/10000度
4、测角仪配程序式可变狭缝
5、高反射效率的石墨单色器
6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）
7、小角散射测试组件
8、多用途薄膜测试组件
9、微区测试组件
10、In-Plane测试组件（理学独有）
11、X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC
12、分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等

仪器应用领域：
1、粉末样品的物相定性与定量分析
2、计算结晶化度、晶粒大小
3、确定晶系、晶粒大小与畸变
4、Rietveld定量分析
5、薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
6、In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7、小角散射与纳米材料粒径分布
8、微区样品的分析

9、智能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域

10、可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料

11、可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品