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X荧光光谱仪性能特点
专业贵金属检测、镀层厚度检测。
智能贵金属检测软件,与仪器硬件相得益彰。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
X荧光光谱仪技术指标
X荧光光谱仪元素分析范围:从钾(K)到铀(U)。
测量对象:固体、液体、粉末
分析检出限可达:1ppm。
分析含量一般为:1ppm到99.9%。
X荧光光谱仪多次测量重复性可达:0.1%。
长期工作稳定性为:0.1%。
X荧光光谱仪标准配置
X荧光光谱仪单样品腔。
正比计数盒探测器。
信号检测电子电路。
X荧光光谱仪高低压电源。
X光管。
外观尺寸: 430×380×355mm
样品腔尺寸:306×260×78mm
重量:30kg
X荧光光谱仪应用领域
X荧光光谱仪黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。