X荧光光谱仪


X荧光光谱仪性能特点

X荧光光谱仪长效稳定X铜光管
半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
X荧光光谱仪采用天瑞仪器专利产品—信噪比增强器（SNE）
内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品
X荧光光谱仪脉冲处理器，数据处理快速准确
手动开关样品腔，操作安全方便
三重安全保护模式
X荧光光谱仪整体钢架结构、外型高贵时尚
X荧光光谱仪FP软件，无标准样品时亦可测量

X荧光光谱仪技术指标

型号：THICK600
X荧光光谱仪分析范围： Ti-U，可分析最高3层15个元素
X荧光光谱仪分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
X荧光光谱仪分析精度：多次测量稳定性可达1%.
X荧光光谱仪工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）
测量时间：40秒（可根据实际情况调整）
探测器分辨率：（160±5）eV
X荧光光谱仪光管高压：5-50kV
管流：50μA-1000μA
X荧光光谱仪环境温度：15℃-30℃
环境湿度：30%-70%
X荧光光谱仪准直器：配置不同直径准直孔，最小孔径φ0.2mm
X荧光光谱仪仪器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm
X荧光光谱仪仪器重量：30kg

X荧光光谱仪应用领域

X荧光光谱仪广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业