Felles 红外成像显微镜 microscopeIR
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价格: 面议
产品型号:microscopeIR
公司名称:孚光精仪(中国)有限公司
地:天津南开区
发布时间:2016-10-25
孚光精仪(中国)有限公司
产品详情
Felles 红外成像显微镜专门为微电子研发和制造而设计,包括了一些非常重要的硬件,Felles 红外成像显微镜对于分析和诊断半导体器件非常有用:探测热点和缺陷、电子元件和电路板故障诊断、测量结温、甄别芯片键合缺陷、测量热阻封装、确立热设计规则。
详情浏览 :http://www.f-lab.cn/thermal-imaging/mti175.html
中国最大的进口精密光学器件和科学仪器供应商!

Web: www.felles.cn                    (激光光学精密仪器网)
          www.f-lab.cn                       (分析测试实验仪器网)

Felles 红外成像显微镜特点

电子器件和线路继续朝着微尺度方向发展,微尺度环境下的热量产生和热消散成为该领域的重要课题。

能够测量半导体器件的表面温度分布并显示温度分布,

提供了一种快速探测热点和热梯度的有效手段,

热点和热梯度也能显示出缺陷的位置,这些位置很容易导致效率降低和早期的失效。

可以有效地检测微尺度半导体电路的热问题和MEMS器件的热问题。

http://www.f-lab.cn/thermal-imaging/mti170.html

Felles 红外成像显微镜概述

就电路的检测而言:配备了电路板检测专用软件包“模型比较”用于检测缺陷元件。而且,还可以配备“缺陷寻找”软件模块来探测难以发现的短路问题并找到短路位置。

就MEMS的研发而言:空间温度分布和热响应时间这两个参数对于微反应器,微型热交换器,微驱动器,微传感器之类的MEMS器件非常重要。到目前为止,还有非接触式的办法测量MEMS器件的温度,热成像显微镜能够给出20微米空间分辨率的热分布图像,是迄今为止测量MEMS器件热分布的有力工具。

http://www.f-lab.cn/thermal-imaging.html


Felles 红外成像显微镜特色
光学载物台:坚固而耐用,具有隔离振动的功能;
聚焦位移台:用于相机的精密聚焦和定位;
X-Y位移台:用于快速而精密地把测量区域定位到相机的视场中;

热控制台:具有加热和制冷功能,用于精密器件的温度控制;


Felles 红外成像显微镜应用
*用于半导体IC裸芯片热检测
*探测集成电路的热点(hotspots)和短路故障
*探测并找到元件和电路板上缺陷
*测量半导体结点温度(结温)
*辨别固晶/焊线/点胶缺陷
*测量封装热阻
*确立热设计规则
*激光二极管性能和失效分析
*MEMS热成像分析
*光纤光学热成像检测
*半导体气体传感器的热分析
*测量微交换器的热传输效率
*微反应器的热成像测量
*微激励器的温度测量
*生物标本温度分析
*材料的热性能检测
*热流体分析
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