比表面积及孔径分析仪 JW-K
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价格: 面议
产品型号:JW-K
品牌:0
公司名称:北京精微高博科技开发中心
地:北京东城
发布时间:2012-08-21
北京精微高博科技开发中心
产品简介
) 采用氮吸附方法,在一台仪器中实现更多的测试功能: Ⅰ、直接对比法快速测定比表面积; Ⅱ、BET法测定比表面积; Ⅲ、全程测定氮吸附或脱附等温曲线; Ⅳ、测定超细粉体材料表面的孔径分布(孔隙率),包括体积分布、表面积分布,孔隙的总体积、总面积及平均孔径;
产品详情

 

JW-K型氮吸附比表面积及孔径分布分析仪

一、技术参数
测量原理:    动态常压连续氮吸附法(国内首创)
气体:        高纯氮(99.99%)、高纯氦(99.99%)
气体流量:    ≤100mL/min
流量控制:    稳压稳流系统,高精度流量传感器,数字显示,显示精度0.1%
测量压力:    常压
氮气相对压力:调节范围  0.05-0.98
主机功能:   (1)吸(脱)附等温曲线测定
             (2)孔径分布测定
             (3)BET比表面测定,并可测定吸附常数C 值
             (4)比表面快速测定(直接对比法)
测定范围:   (1)孔径:2nm~200nm           (2) 比表面:0.1~3500㎡/g
测量重复精度:≤±3%
测试时间:   (1)BET比表面:平均每个样品30分钟
             (2)孔径分布:平均每个样品3~4小时
             (3)数据采集:恒流电路,气体浓度传感器工作站,放大及滤除杂波系统,采集速度100次/秒。

二、产品特点
a)   采用氮吸附方法,在一台仪器中实现更多的测试功能;
b)   动态法对测试过程十分直观,可以看到不同氮分压条件下,氮吸附和脱附的全过程;
c)   采用了最先进的技术,从压力到流量实现氮气分压从0至100%的全程精确控制,孔径测试范围可从2nm至200nm;
d)   气路系统的巧妙设计,无须任何复杂的程序即可实现各种测量方法和功能的选择。
 
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