筛选
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半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业 电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验 |
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半导体,被动组件,零件接脚氧化试验
Test basket Dimension |
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型号 | ZA-3 | ||
升温时间 | R.T.~98'C/60Min | ||
控制器 |
欧姆龙E5AX麦克风,电脑控制器(分辨率:0.1℃)
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温度稳定度 | ±0.3℃ | ||
内外箱材质 |
#316技能提升计划完全组装结构钢
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保温材质 |
聚氨酯,防火静电泡沫
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加热器 |
保温温度加热器
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保护系统 |
地球漏电断路器/水肖尔tageprotector/错误指示灯
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电源 | AC 220V 1ψ 50/60Hz | ||
电流 | 7A | ||
重量 | 60kg | ||
测试篮
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4台 | ||
外箱尺寸 | 820×560×440 | ||
※以上规格仅供参考,如有变更不另行通知。 |