技术参数 
1.膜天平测量范围：0 - 125 mN/m 
2.膜天平分辨率：4 μN/m 
3.沉积速度：1 - 85 mm/min或者 2 - 170 mm/min 
4.沉积次数：无限 
5.压缩速度：0.01 mm - 400 mm/min 


主要特点 
1.三镀槽室设计，可对基片镀同种/不同种膜 
2.镀槽结构简单，操作方便；组合式设计，升级方便 
3.反馈控制的对称膜压缩，确保膜均匀一致 
4.系统可带有各种在线膜表征设备 
5.计算机控制, 软件数据处理功能强大 


仪器介绍 
HG208-KSV-5000型LB膜分析系统，应用操作灵活。它扩展了传统的膜天平，使其成为一种高性能的LB膜分析仪器或者一整套交替多层LB膜分析系统。 
系统结构模块化，可扩展升级的硬件和软件；整个系统功能全部由计算机控制，仪器各部分部件容易清理，所有升级模块均可在实验室内直接安装，框架型结构，允许添加其它附属装置；高质量的硬质熔结槽体；可进行膜的荧光和光谱分析，测量pH值和表面势能等。 
HG208-KSV-5000系统是由各模块和辅助装置组成；HG208-KSV 5000有三个基本系统，可以使您有充分的机会选择合适的仪器配置，以满足您特定的实验要求。 
系统1： Langmuir膜天平；用于常规单分子层膜分析和Langmuir膜实验；生物膜和酶动力学反应研究（可升级成系统2和系统3）。 
系统2：LB膜分析仪；用于镀多层LB膜；HG208-KSV-5000系统1相同的用途（升级成系统3）。 
系统3：交替多层LB膜分析仪；用于两种不同的单分子层的多层有序镀膜；HG208-KSV-5000系统1和系统2相同的用途。；