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介质损耗(介电常数)测试系统方案
高频介质损耗(介电常数)测试系统由HJS-I型高频Q表、AS916测试装置(夹具)、数据采集和tanδ自动测量控件(装入HJS-I型高频Q表软件模块)、及HLKI-1型电感器组, 液体杯(可选,用于测试液态材料)组成。
高频介质损耗(介电常数)测试系统依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的最佳解决方案。
高频介质损耗(介电常数)测试系统配置方案及报价如下表:
主机 |
HJS-I高频Q表 |
测试装置 |
AS916 |
HLKI-1型电感器组 |
√ |
|
|
1 HJS-A+AS916+HLKI-1电感组特点:
测试频率范围 |
10KHz-70MHz, LCD显示,6位有效数 ,DDS数字合成 |
Q值测量范围 |
1~1000四位数显,±0.1Q分辨率 |
可调电容范围 |
28~490pF 0.1pF分辨率 |
电容测量误差 |
±0.5%±0.5pF |
Q表残余电感值 |
约20nH |
S916测试装置 |
屏幕5位数显,极片为φ38和φ50二选一,支持液体杯测试, 液体杯测试极片为φ38 |
数据采集和tanδ自动测量控件 |
支持 |
技术参数
(1)Q值测量
a.Q值测量范围:2~1023。
b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
c.标称误差
频率范围 10kHz~10MHz;
固有误差 ≤5%±满度值的2%;
工作误差 ≤7%±满度值的2%;
频率范围 10MHz~70MHz;
固有误差 ≤6%±满度值的2%;
工作误差 ≤8%±满度值的2%。
(2)电感测量范围:14.5nH~8.14H
(3)电容测量:1~ 460
项 目
直接测量范围 1~460pF
主电容调节范围 30~500pF
准 确 度 150pF以下±1pF;
150pF以上±1%
(4)信号源频率覆盖范围
项 目
频率范围 10kHz~70MHz
频率分段(虚拟) 10~99.9999kHz
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
10~70MHz
频率指示误差 3×10-5±1个字
(5)Q合格指示预置功能
预置范围:5~1000。
(6)Q表正常工作条件
a. 环境温度:0℃~+40℃;
b.相对湿度:<80%;
c.电源:220V±22V, 50Hz±2.5Hz。
4、设备配置:
a.测试主机一台;
b.电感9只;
c.夹具一套
- 询价产品:介质损耗(介电常数)测试仪
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