掌上型光时域反射仪 SUN-OT5000系列
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仪表展览网>产品库>OTDR/光时域发射仪
价格: 面议
产品型号:SUN-OT5000系列
公司名称:成都贝斯达仪器有限公司
地:四川成都
发布时间:2013-09-10
成都贝斯达仪器有限公司
产品简介
SUN-OT5000系列掌上型光时域反射仪是一款独具匠心的光纤线路寻障分析产品,为光纤通信网测试提供了一种全新的应用方式,其稳定性和惊人的性价比在全球广受瞩目。其与传统 OTDR 相比,其尺寸更加小巧,操作更为简洁,独特的热键功能使事件的浏览和分析更加快捷
产品详情
SUN-OT5000系列掌上型光时域反射仪

SUN-OT5000系列掌上型光时域反射仪是一款独具匠心的光纤线路寻障分析产品,为光纤通信网测试提供了一种全新的应用方式,其稳定性和惊人的性价比在全球广受瞩目。其与传统 OTDR 相比,其尺寸更加小巧,操作更为简洁,独特的热键功能使事件的浏览和分析更加快捷;功能齐全,全面满足单模(1310nm/1550nm)、多模(850/1300nm)等光纤测试应用需求,支持平均/实时双测量模式;其多功能背包

亦充分考虑到了野外作业和实验室测试的操作方便,可充分满足不同用户和各种现场测试需求,使其成为

目前发展迅速的农话网、城域网和 FTTx 光纤施工、认证、例检、抢修和维护中的首选工具。

开机启动时间小于

从开启电源到进入接口并启动测试只需要不到 5 秒的时间,用户无需等待。

OTDR TraceManager 仿真软件

基于Windows PC 机的软件可以在 PC 机上对测试迹线进行分析/编辑,也可根据使用者需求生成不同形式的测试报告。

产品特点:

可浏览和分析所测试迹线档

Bellcore 档存储格式

显示迹线,光纤事件,分析信息,测试参数等数据

单页单迹线或单页多迹线可选打印模式批量修改和批量打印功能

波形差异对比功能在仿真模式中,可在同一窗口同时打开多个波形,波形间的差异在同一窗口显示出来,可以更容易地比较诸如光纤老化原因所造成的参数改变。

双方向分析测试功能

全面光纤测试应用:

单模:1310/1550nm,最大 45dB

多模:850/1300nm18/22dB

高效人机界面,掌上型轻量化设计(仅重 1kg

独特的热键设计:按键操作集成热键功能,快捷定位及分析事件点

USB/RS232 数据接口

1000 条迹线存储

优化的供电设计:内置 NiMH 充电电池一次充电可支持 8 小时测量

防尘、防震设计

技术指标:

型号(1)

波长 (±20nm)

动态范围(2)

事件盲区(m)

衰减盲区(m)

SUN-OT5000-M

850/1300

18/22

7(6)

20(6)

SUN-OT5000-S1

1310/1550

24/24

10(5)

25(5)

SUN-OT5000-S2

1310/1550

32/32

2.5

14

SUN-OT5000-S3

1310/1550

38/37

2.5

14

SUN-OT5000-S4

1310/1550

45/43

2.5

14

测试范围 (KM) (3)

0.1, 0.3, 0.5, 1.3, 2.5, 5, 10 @ 850nm;

0.1, 0.3, 0.5, 1.3, 2.5, 5, 10, 20, 40, 80 @ 1300nm

0.3, 1.3, 2.5, 5, 10, 20, 40, 80, 120, 160, 240 @ 其他

脉宽(4)

12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 1µs@850nm;

12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 1µs, 2.5µs@1300nm

5ns, 10ns, 12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 300ns, 1µs, 2.5µs, 10µs, 20µs@

测量时间

15s, 30s, 1min, 2min, 3min

测距精度

±(1 m + 5×10-5×距离+取样间距)

衰减测量精度(dB/ dB)

±0.05

反射测量精度(dB)

±4

资料存储

SUN-OT5000-S3,S4 型:1000 条测试曲线;SUN-OT5000-M,S1型:300 条测试曲线

通信接口

USB/RS232

光界面

FC/PC (可互换 SC, ST)

供电方式

双路供电:NiMH 充电电池/ AC 适配器

电池工作时间

一次充电后:连续操作小时待机时间20 小时

工作温度(°C)

0 ~ 50

保存温度(°C)

-20 ~ 70

相对湿度

0~95% (无结露)

 (Kg)

1

体积 (××)(mm)

220×110×70

注释:

技术指标描述了用典型 PC 型连接器测量时仪器的保证性能。不考虑由于光纤折射率导致的不确定度;

动态范围是在最大脉冲宽度、平均时间分钟条件下测得;

距离范围中 160Km檔和 240Km档只对本仪表的SUN-OT5000-S2,S3,S4,型有效;120Km 档只对本仪表的 SUN-OT5000-M,S1 型有效;

脉宽中 5ns10ns300ns10us 檔和 20us 档只对本仪表的SUN-OT5000-S2,S3,S4,型有效;12ns  275ns 档只对本仪表的 SUN-OT5000-M, S1型有效;

盲区测量条件:对 SUN-OT5000-M, S1型,反射事件在 2.1Km处,反射强度<-35dB,用 30ns 脉宽进行测量;对 SUN-OT5000-S2,S3,S4,型,反射事件在 0.6Km处,反射强度<-45dB,事件盲区用 10ns 脉宽进行测量,衰减盲区用 30ns 脉宽进行测量; 

盲区测量条件:反射事件在 1Km处,反射强度<-32dB,用 12ns 脉宽进行测量。

标准配置:

主机、FC/PC 激光连接器、充电电池、TraceManager 软件光盘、数据传输线(RS232/USB)、AC 适配器、便携软包、保修卡、校准证书、快速操作手册

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