掌上型光时域反射仪 SUN-OT5000系列

SUN-OT5000系列掌上型光时域反射仪

SUN-OT5000系列掌上型光时域反射仪是一款独具匠心的光纤线路寻障分析产品，为光纤通信网测试提供了一种全新的应用方式，其稳定性和惊人的性价比在全球广受瞩目。其与传统 OTDR 相比，其尺寸更加小巧，操作更为简洁，独特的热键功能使事件的浏览和分析更加快捷；功能齐全，全面满足单模(1310nm/1550nm)、多模(850/1300nm)等光纤测试应用需求，支持平均/实时双测量模式；其多功能背包

亦充分考虑到了野外作业和实验室测试的操作方便，可充分满足不同用户和各种现场测试需求，使其成为

目前发展迅速的农话网、城域网和 FTTx 光纤施工、认证、例检、抢修和维护中的首选工具。

开机启动时间小于5 秒

从开启电源到进入接口并启动测试只需要不到 5 秒的时间，用户无需等待。

OTDR TraceManager 仿真软件

基于Windows PC 机的软件可以在 PC 机上对测试迹线进行分析/编辑，也可根据使用者需求生成不同形式的测试报告。

产品特点:

可浏览和分析所测试迹线档

Bellcore 档存储格式

显示迹线，光纤事件，分析信息，测试参数等数据

单页单迹线或单页多迹线可选打印模式批量修改和批量打印功能

波形差异对比功能在仿真模式中，可在同一窗口同时打开多个波形，波形间的差异在同一窗口显示出来，可以更容易地比较诸如光纤老化原因所造成的参数改变。

双方向分析测试功能

全面光纤测试应用：

单模：1310/1550nm，最大 45dB

多模：850/1300nm，18/22dB

高效人机界面，掌上型轻量化设计（仅重 1kg）

独特的热键设计：按键操作集成热键功能，快捷定位及分析事件点

USB/RS232 数据接口

1000 条迹线存储

优化的供电设计：内置 NiMH 充电电池一次充电可支持 8 小时测量

防尘、防震设计

技术指标:

型号(1)	波长 (±20nm)	动态范围(2)	事件盲区(m)	衰减盲区(m)
SUN-OT5000-M	850/1300	18/22	7(6)	20(6)
SUN-OT5000-S1	1310/1550	24/24	10(5)	25(5)
SUN-OT5000-S2	1310/1550	32/32	2.5	14
SUN-OT5000-S3	1310/1550	38/37	2.5	14
SUN-OT5000-S4	1310/1550	45/43	2.5	14
测试范围 (KM) (3)	0.1, 0.3, 0.5, 1.3, 2.5, 5, 10 @ 850nm; 0.1, 0.3, 0.5, 1.3, 2.5, 5, 10, 20, 40, 80 @ 1300nm 0.3, 1.3, 2.5, 5, 10, 20, 40, 80, 120, 160, 240 @ 其他
脉宽(4)	12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 1µs@850nm; 12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 1µs, 2.5µs@1300nm 5ns, 10ns, 12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 300ns, 1µs, 2.5µs, 10µs, 20µs@其他
测量时间	15s, 30s, 1min, 2min, 3min
测距精度	±(1 m + 5×10-5×距离+取样间距)
衰减测量精度(dB/ dB)	±0.05
反射测量精度(dB)	±4
资料存储	SUN-OT5000-S3,S4 型：1000 条测试曲线；SUN-OT5000-M,S1型：300 条测试曲线
通信接口	USB/RS232
光界面	FC/PC (可互换 SC, ST)
供电方式	双路供电：NiMH 充电电池/ AC 适配器
电池工作时间	一次充电后：连续操作≥8 小时; 待机时间≥20 小时
工作温度(°C)	0 ~ 50
保存温度(°C)	-20 ~ 70
相对湿度	0~95% (无结露)
重量(Kg)	1
体积 (长×宽×厚)(mm)	220×110×70

注释：

技术指标描述了用典型 PC 型连接器测量时仪器的保证性能。不考虑由于光纤折射率导致的不确定度；

动态范围是在最大脉冲宽度、平均时间3 分钟条件下测得；

距离范围中 160Km檔和 240Km档只对本仪表的SUN-OT5000-S2,S3,S4,型有效；120Km 档只对本仪表的 SUN-OT5000-M,S1 型有效；

脉宽中 5ns、10ns、300ns、10us 檔和 20us 档只对本仪表的SUN-OT5000-S2,S3,S4,型有效；12ns 和 275ns 档只对本仪表的 SUN-OT5000-M, S1型有效；

盲区测量条件：对 SUN-OT5000-M, S1型，反射事件在 2.1Km处，反射强度<-35dB，用 30ns 脉宽进行测量；对 SUN-OT5000-S2,S3,S4,型，反射事件在 0.6Km处，反射强度<-45dB，事件盲区用 10ns 脉宽进行测量，衰减盲区用 30ns 脉宽进行测量；

盲区测量条件：反射事件在 1Km处，反射强度<-32dB，用 12ns 脉宽进行测量。

标准配置：

主机、FC/PC 激光连接器、充电电池、TraceManager 软件光盘、数据传输线（RS232/USB）、AC 适配器、便携软包、保修卡、校准证书、快速操作手册