CGK-1 2型光辐射自动测控仪

产品介绍：

该仪器可准确监测曝光量或曝辐量,可方便预置曝光(辐)量,且在监测达到预置发声报警.它可广泛应用于材料老化,紫外灭菌,光化学,大规模集成电路光刻等领域.

产品特点：

主要性能和技术指标:

1. 测量的光辐射波段:
300~1050nm (用于材料老化)
230~280 nm (用于紫外杀菌)
320~400nm (用于光化学,光刻,印刷)

2. 仪器显示:
仪器有两个显示窗口:
光辐照度显示 3位
曝光(辐)量显示 5位

3. 预置与报警:
　仪器可预置曝光(辐)量,当监测量达到预置时,仪器将发声报警.

4. 光辐照度及曝光量监测精度
　　±5% (相对于NIM标准)

5. 使用环境:
　　温度:20±20℃
　　湿度:<85%

6. 电源: ~220V

CGK-1/2型光辐射自动测控仪与其它类似产品的区别如下:

技术参数：

型号	波长范围(nm)	峰值波长(nm)	量程	度
UA-V:	320～400	365	10¯1～199.9×10³uW/cm²	+/-5％+/-1字(相对于NIM标准)
UA-V(双通道):	320～400	365	10¯1～199.9×10³uW/cm²	+/-5％+/-1字(相对于NIM标准)
------	380～460	420	10¯1～199.9×10³uW/cm²	+/-5％+/-1字(相对于NIM标准)
UV-B:	230～290	254	10¯1～199.9×10³uW/cm²	+/-5％+/-1字(相对于NIM标准)
UV-B(双通道):	230～290	254	10¯1～199.9×10³uW/cm²	+/-5％+/-1字(相对于NIM标准)
------	250～350	297	10¯1～199.9×10³uW/cm²	+/-5％+/-1字(相对于NIM标准)
FZA:	400～1000	(450～950)	10¯1～199.9×10³uW/cm²	+/-5％+/-1字(相对于NIM标准)
GCK1:	300～1050	(450～950)	1～999mW/cm² 10¯1～9999.9MJ/cm²	+/-5％+/-1字(相对于NIM标准)
------	320～400	365	1～99.9mW/cm² 1～9999.9mJ/cm²	+/-5％+/-1字(相对于NIM标准)
------	230～290	254	1～99.9mW/cm² 1～9999.9mJ/cm²	+/-5％+/-1字(相对于NIM标准)
FGH1:	400～700	(450～650)	10¯4～1.999×10²mW/cm²	+/-5％+/-1字(相对于NIM标准)

名称	规格	包装	备注	销售价(元)
CGK-1型光辐射自动测控仪	.	1	单通道	10900.00
CGK-2型光辐射自动测控仪	.	1	双通道	15880.00