磁粉探伤仪 CXD-III

产品概述：
磁粉检测技术是最常用的无损检测方法之一，它主要检测铁磁性材料表面和近表面的缺陷。表面缺陷的危害性比内部缺陷危险性更大，因此，表面缺陷的检测刻不容缓。
磁粉检测发现的缺陷都是微米级的缺陷，磁粉照明装置显得尤为重要，我公司在原有磁粉探伤仪的基础上，对以往产品的照明部分做了很大的改进，采用了高亮度LED照明装置，亮度强，不易爆破，让缺陷无处可逃。
磁粉探伤仪产品特点：
灵敏度高，国家A1型试片能全部清晰显示。(如照片所示)
磁粉游动性好，易于吸附在缺陷表面。
采用高亮度LED照明，避免了以往缺陷漏检现象。
采用高亮度LED照明后，光源不会因磁悬液的飞溅而爆破。
携带方便，方便高空、野外作业。
探伤后不需要退磁。
磁粉探伤仪技术参数
提升力：交流磁轭≥10Kg，带活关节时≥7Kg，旋转磁场≥10Kg（被探工件表面与探头端面气隙≤1.5mm）。
探头极距：交流磁轭（D型）探头，固定式为155mm，带活关节时50∽200mm可调，旋转磁场（E型）两相邻探头铁芯中心距为125mm，磁钳型（A型）探头0∽170mm，环型（O型）探头Φ90mm，约2000AT。
探头工作电压：均为38V 。
灵敏度：磁轭，旋转磁场，磁钳型和环型探伤时均可清晰显示30/100A型标准试片上的人工刻槽。