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TN-254紫外线强度计频谱范围:220~275nm
TN254紫外照度计中心波长:254nm
量程:1uW/cm2~40.00mW/cm2
精度:±(4% +1dgt)
自动记录
调零
20点记忆
取样时间0.3秒
背光LCD双显示
操作温度:0~50°C
TN254紫外照度计简介
工业:焊接时监测蓝紫射线辐射;阳光辐射监测;UV;图形艺术;UV EPROM擦除;光刻曝光 ;实验室:风化研究;UV;病毒学;微生物遗传学;DNA研究;普通实验室用途;