ARL QUANT'X X射线荧光能谱仪(EDXRF)

ARL QUANT'X X射线荧光能谱仪(EDXRF)
aRL QUANTX EDXRF 光谱仪提供出色的痕量分析灵敏度，打破了1纳米的检测限瓶颈。
专为满足实验室和制造环境中极具挑战性的分析需求而设计，ARL QUANTX EDXRF 光谱仪的功能和灵活性可最大程度提高各种元素分析应用的分析量。
ARL QUANT'X X射线荧光能谱仪产品概述：
能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备，实现主量、次量和痕量元素分析，所分析样品范围广泛，可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。
ARL QUANT'X X射线荧光能谱仪先进的技术
• 独特的 Peltier 电制冷 Si (Li) 检测器
• 数字脉冲处理 (DPP) 技术
• 高性能、多元素分析
ARL QUANT'X X射线荧光能谱仪主要功能特点
• 出色的痕量分析灵敏度
• 高分析量的进程控制
• 适用于异常材料的高级分析算法
• 出色的样品处理灵活性
• 机械简化和灵活性
• 占地面积小、易于运输以进行野外测量
• 快速、简易的安装以及可完全现场定制
• 随附完整的实验室启用套件
• 经验证的硬件和全套软件
• 现场、协同方法开发
• 完整的技术应用支持
• 汇集了数百种应用的专业知识
• 功能强大、易于使用的 WinTrace*软件
• 无标和半无标分析
• 基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法
• 多层厚度及成分
• 不限元素、不限数量的标样
• 利用自动化操作实现多个激发条件
可ARL QUANT'X X射线荧光能谱仪用于：
• 悬浮颗粒物过滤器
• 符合 RoHS 及 WEEE 的分析
• 法医及痕量分析
• 营养补充剂
• 磁性介质和半导体
• 土壤污染
• 过滤器上的薄膜
• 塑料中的有毒元素