l        10kHz电压可达1000V @ 4VA

l        每分钟能测量30个以上的元件

l        阻抗范围从100W以下至3MW以上

l        第三谐波低于-160dB

l        对于电流声不敏感

l        光导纤维通信传送

l        IEC440标准设置容易

l        IEEE 488（GPIB）和RS232C接口

l        废品分类可编程

l        通过CE 认证

应 用

该仪表应用非常广泛，包括：

l        生产测试

l        元件开发

l        验收测试

l        元件和材料的非线性检验

l        筛选视听元件

背 景

有缺陷的元件不仅不可靠,同时缺陷造成电流密度的变化和不稳定会产生非线性。由于非线性与可靠性的相互关系,测量纯正弦波电流通过时在元件内产生的畸变能检验元件的可靠性。

    非线性（即主要的第三谐波与外加基本电压的比）的单位是dB。非线性同元件的噪音指数一样是元件可靠性参数。噪音指数的测量十分费时，不适合100%全体测试。

如元件的非线性高于同一批产品的中间值的话，它就属于可靠性较差的产品。

在生产测试中，通常把非线性在-90dB与 -130dB之间作为一个固定的不合格范围。把有疑问的产品作为废品处理能提高整批产品的可靠性。同时，报废的元件还能有助于生产厂家提高生产技术，从而使其产品具有更高的品质和可靠性。

元件的缺陷

电阻器引起非线性的典型缺陷：

l        引线与插座接触不良

l        插座与电阻材料接触不良

l        材料（如薄膜）的质量差

l        材料上有不均匀点

l        螺线有问题

l        薄膜上有沟状痕迹

电容器引起非线性的典型缺陷

l        电极与端子的接触不良

l        介质沾污了云母、纸、聚苯乙烯等里的氧化铁或铁粒子

l        静电造成的动程之类的机械不稳定

l        陶瓷质量差

l        陶瓷上有纵向沟槽

这些缺陷是产生元件非线性的普遍原因

用户界面友好

CLT10 控制部分按IEC440所要求的操作条件设有桌面。各色数字按钮使仪表能方便的对所要测试的电阻进行设置，只需键入标准IEC颜色代码。

此外，通过按键或遥控可以储存99个用户自己设定的操作条件，使用户可以设置、储存、以后还可以重复使用特定的元件电阻测试条件。

系统综合利用

CLT 10控制部分有一个标准的IEEE488（GPIB）和可选配的内置RS232C遥控接口。这些接口能确保系统在生产线和实验室里的综合利用。

除了电源开关外所有的功能都由软件控制。除可通过控制部分的前面板进行控制外，还棵通过遥控接口对一些增强性能进行控制。这些增强性功能包括：仪表识别、综合系统测试、设置检验、IEC440标准设置插头1/16，1/2，1，2，4W装置，以及最近99个测试指标的读数。

这些性能使用户能收集测量数据诸如生产批量的有关数据以及今后工艺的统计分析。

灵活的配置

   CLT 10的电源容量（4 VA @ 250 kW ）大，使其能在一小段测试时间里元件承受过负荷。这样能在按要求进行测试前给元件加压，从而确保扩大动态测试范围。

该系统包括畸变率高和低分类范围，全部可编程限制范围控制用户连接器的输出，可用于自动通过/不通过生产线。

 标准的IEEE488和RS232C接口能进行仪表综合利用数据收集的遥控。

测试原理

        CLT 10 元件线性测试仪的测试方式是基于测量元件的非线性。如图2所示，把一条纯10kHz正弦电压输到所需测试的元件上。

如果元件的阻抗大小受外加电压的影响，则正弦波会畸变，电流会有纯基本正弦波部分及其更高的谐波组成。

第三谐波部分通常是最主要的部分，因而作为测量元件畸变（非线性）的方式。

第三谐波电流相当于与阻抗为Z_X的待测元件连在一起的无负荷的U_3.0电压。当10kHz低通滤过器阻断在30kHz，第三谐波电压U₃可在负荷阻抗R₁上测得。

Z_X、 R₁的值一定，无负荷电压可由以下公式方便地计算出：

U_3.0= U₃×（1+   Z_X  / R₁）

通过加入一个特殊的低畸变匹配用变压器，测试中的元件能在很大阻抗范围内适应发电机和30kHz伏特表。

当对一整批有标称阻抗值的元件进行测试时，第三谐波值可以在一个平均值附近分布。分布曲线通常上一条高斯曲线，见图3。

然而，一部分元件所显示的畸变率比同一批的其他产品高，这也许是因为材料结构上的小缺陷或偏差造成的。

一些元件含有具固有较高畸变率的材料，如：磁性材料，合成电阻，高介电电容器等。在这些元件里，由一些小缺陷引起的不正常畸变可能会被一些材料的固有高畸变率所掩盖而不被发现。另一方面，一些金属化薄膜电阻的固有畸变率非常低，一般在-130dB或更低。在这些元件里，由一些小缺陷引起的不正常畸变会在其余的整批元件中显得十分明显。

CLT 10之所以与众不同，是因为它在正弦波下能测出低至-160dB的畸变率。

在市场上没有其它仪表可做到这样的敏感性,只有CLT10才能测出精密电阻是否有缺陷。