双晶片直探头检验用对比试块 GB T2970-2004
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产品型号:GB/T2970-2004
公司名称:上海越磁电子科技有限公司
地:上海杨浦
发布时间:2015-07-25
上海越磁电子科技有限公司
产品简介
GB/T2970-2004双晶片直探头检验用对比试块板厚小于等于60mmGB/T2970-2004双晶片直探头检验用对比试块,无损检测试块 超声波探伤试块 超声波检测试块 铁道部试块,100*100*16mm--X型焊缝自然缺陷试块
产品详情

板厚小于等于60mmGB/T2970-2004双晶片直探头检验用对比试块

 

GB/T2970-2004单晶片直探头检验用对比试块

 

试块编号  校检验钢板厚度 平底孔距离S 试块厚度T
1        大于13-20      7          大于15
2        大于20-40      15         大于20
3        大于40-60      30         大于40
4        大于60-100     50         大于65

 

加定型
5        大于100-160    90         大于110
6        大于150-200    140        大于170

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无损检测试块 超声波探伤试块 超声波检测试块 铁道部试块
100*100*16mm--X型焊缝自然缺陷试块

ASTM 709,焊接缺陷检测试块,检测依据(Test according to):ASTM 709材质(Material):45#
化学成份分析(Chemical Element Analysis) %
执行标准(Standard):GB/T699-1999
CSK-IA,IIIA, ASME-,45#钢焊缝自然缺陷试块,检测灵敏度DAC+3dB检测面单侧双面
扫查方法据齿形扫查
检测结果
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