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介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置,电感器及标准介质样品组成,能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
WD.106-2855介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是10kHz~120MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品 放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。同样,由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化,通过公式计算得到介电常数。
1 特点:
◎ 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
◎ 调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。
◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。
◎ Q值量程自动/手动量程控制。
◎ DPLL合成发生1kHz~70MHz(WD.106-2852D), 50kHz~160MHz(WD.106-2853D)测试信号。独立信号 源输出口,所以本机又是一台合成信号源。
◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
2 主要技术指标:
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz~120MHz的tanδ和ε变化的测试。
2.1.2 tanδ和ε测量范围:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε测量精度(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
- 询价产品:介电常数和介质损耗测试仪 DT319-2855
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