介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置，电感器及标准介质样品组成，能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。 
WD.106-2855介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是10kHz～120MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。 
本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品 放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。同样，由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化，通过公式计算得到介电常数。 
1 特点：  
◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。 
◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。 
◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。 
◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。 
◎ Q值量程自动/手动量程控制。 
◎ DPLL合成发生1kHz～70MHz（WD.106-2852D）, 50kHz～160MHz（WD.106-2853D）测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。 
◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。 

2 主要技术指标： 
2.1 tanδ和ε性能： 
2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。 
2.1.2 tanδ和ε测量范围： 
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50 
2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）： 
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%