公司名称:北京八零时代科技发展有限公司 所在地:北京东城 发布时间:2015-03-12 联系人:沙先生 联系电话:010-51658246 北京八零时代科技发展有限公司 产品简介 FISCHERSCOPE X-RAY 5000 X X射线荧光测量系统,用于在生产过程中对薄镀层如 CIGS、CIS 或 CdTe进行连续在线测量和分析 FISCHERSCOPE X-RAY 5000 X X射线荧光测量系统特点 产品详情 FISCHERSCOPE X-RAY 5000 X射线荧光测量系统特点 法兰测量头,用于在生产线中进行连续测量 X射线探测器可以为比例计数管,珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器 在生产过程中直接用典型产品进行快速简单校 可在真空或大气中使用 可以在最高 500° C 的高温基材上进行测量 坚固和耐用是设计的重心 FISCHERSCOPE X-RAY 5000 X射线荧光测量系统典型应用领域 光伏技术(CIGS,CIS,CdTe) 分析对金属带、金属薄膜和塑料薄膜上的镀层 连续生产线 喷射和电镀生产线监测 X射线荧光测量系统测量大面积样品 商铺其他产品 HL110A便携式金属硬度计 HL110A便携式金属硬度计 HR-150A洛氏硬度计 HR-150A洛氏硬度计 HVS-1000 数显显微维氏硬度计 HVS-1000 数显显微维氏硬度计 KB-3000E电子布氏硬度试验机 KB-3000E电子布氏硬度试验机 钢板测厚仪-ET320超声波测厚仪 ET320超声波测厚仪 笔式硬度计HIP1800 笔式硬度计HIP1800 联系商家 立即询价 发布询价单 询价产品:X射线荧光测量系统 FISCHERSCOPE X-RAY 5000 X射线荧光测量系统 询价数量: /个 联系人: 联系电话:
FISCHERSCOPE X-RAY 5000 X X射线荧光测量系统,用于在生产过程中对薄镀层如 CIGS、CIS 或 CdTe进行连续在线测量和分析 FISCHERSCOPE X-RAY 5000 X X射线荧光测量系统特点
FISCHERSCOPE X-RAY 5000 X射线荧光测量系统特点 法兰测量头,用于在生产线中进行连续测量 X射线探测器可以为比例计数管,珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器 在生产过程中直接用典型产品进行快速简单校 可在真空或大气中使用 可以在最高 500° C 的高温基材上进行测量 坚固和耐用是设计的重心 FISCHERSCOPE X-RAY 5000 X射线荧光测量系统典型应用领域 光伏技术(CIGS,CIS,CdTe) 分析对金属带、金属薄膜和塑料薄膜上的镀层 连续生产线 喷射和电镀生产线监测 X射线荧光测量系统测量大面积样品