• 提供全方位电性测试 (200V/2A) ，可满足HV及HP测试
• Chroma大面积光侦测器(量测角度可达148度)
• 半自动精密LED wafer/chip点测设备
• 特殊无钻孔真空平台设计
• 特制Edge Sensor具有点测针压稳定，无疲乏与针压变动问题
• 独特萤幕直觉式调针方式
• 机械视觉定位系统，缩短人工操作时间
• Prober与Tester整合，效益大幅提升
• 自动抽测功能
• 广泛的芯片尺寸应用(满足Chip Size 7~120 mil测试)
• 弹性调整的软体操作界面
• 快速芯片扫描系统
• 自动破片扫描演算法
• 遮光罩设计，杜绝背景光干扰
• 即时显示点测资料分布图
• 完善的量产测试统计报表及分析工具

技术规格：

• 半自动化 LED wafer/chip 点测设备
• 漏电流测试模组
• 电源量测单元
• 光学测试模组
• ESD 测试模组 (选配)

58173-FC为针对覆晶型(Flip Chip) LED开发的半自 动点测设备。特殊的无钻孔玻璃平台设计使得收光路径上无任何干涉，因而达到更加精 准的量测。

延用致茂研发的高速精准的LED全光通量的量测 方式 ，这种创新的量测方式不仅比传统 方式收集更多的LED部分光通量，也明显的改善 提升了量测准确度。

在光学量测方面，主波长、峰波长、色温等均可 透过致茂独特的光学设计与元件取得精确且稳 定快速之数据；在电性测试方面，58173-FC 则 具备完整之电源量测单元，无论顺向电压、漏电 流、逆向崩溃电压等 LED 电性特性，均可于一 次满足使用者的测试需求。

58173-FC将Prober和Tester完全整合，搭配弹性 调整的软体操作界面及最佳逻辑演算法使得生产 效益大幅提升 ；完善的量产测试统计报表及分 析工具可以让使用者用轻松掌握生产状况。

选购附件：

主要销售：LCR测试仪,,信号发生器,数字存储示波器,绝缘电阻测试仪扭力扳手扭矩扳手耐压测试仪直流电阻测试仪数字电桥等等测量仪器，测试仪器，工具等。（点击关键词可进入相关产品目录）扭力测试仪瓶盖扭力测试仪数字电桥,扭力扳手

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咨询电话： -111  

热线： / 包小姐/景小姐

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