元器件测量

无源器件

测量两个端口或引线的器件的阻抗，包括电容器、电感器、

铁氧体磁珠、电阻器、变压器、晶体/陶瓷谐振器、

多芯片模块或阵列/网络元器件。

半导体元件

变容二极管的C-V特性分析

对二极管、晶体管或IC封装端子/引线的寄生参数进行分析。

放大器输入/输出阻抗测量。

其他元器件

测量印刷电路板、继电器、开关、电缆和电池等元件的阻抗。

材料的测量

电介质材料

测量塑料、陶瓷、印刷电路板及其它电介质材料的介电常数和损耗角正切值。

磁性材料

测量铁氧体、非晶硅和其它磁性材料的导磁率和损耗角正切值。

半导体材料半导体材料的电容率、导电性和C-V特性。

工作频率

40Hz到110MHz,1mHz分辨率

基本阻抗精度

±0.08%

Q精度

Q=100、测量频率小于10MHz时,±3%(典型值)

阻抗范围

3mΩ到500MΩ*1

测量时间

测量频率大于500kHz、分辨率带宽=1(快速测量模式)时,3ms/点

每次扫描点数

2到801个点

测量类型

四端子对测量(标准)7毫米毫米单端口测量(使用42942A),

可测量接地器件使用高阻探头测量(使用42941A),可测量接地器件

阻抗参数

IZI、IYI、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q

直流偏置

0到±40V/100mA,1mV/40μA分辨率恒定电压/恒定电流模式,直流偏置V/I监测功能

测量信号的电平

5mV到1Vrms;200μA到20mArms测量信号电平V/I监测功能

扫描参数

频率、测量信号的电平(V/I)、直流偏置(V/I)

扫描类型

线性、对数、列表:手动扫描模式:向上/向下扫描

其他功能

等效电路分析功能，限制线功能迹线累加模式

游标

8个游标(1个主游标和7个子游标)差值游标功能，游标搜索功能

(最大、最小、峰值、下一峰值等)游标分析功能