XP-703D半导体特气检漏仪（自动吸引式） XP703D

XP-703D半导体特气检漏仪（自动吸引式）气体检测仪

特点：
适合于检测半导体特气的微量泄漏。
采用声光报警。

规格

型号	XP-703D
检测对象气体	半导体材料气体（胂、膦、乙硼烷、硅烷、氢气等）
检测原理	型半导体式
采样方式	自动吸引式
可检测浓度（单位：ppm）	砷烷磷烷乙硼烷硅烷氢气 AsH3 PH3 B2H6 SiH4 H2 0.2 0.3 0.1 0.5 1.0
检测表示	蜂鸣器断续鸣响及指示灯闪烁
应答速度	10秒以内

YWLXIISG HFRLB11 HFRLBII HFRLB1 MS2670C1I HFRLB2 MS2670CIIB MS2670E HFRLB2 MS2670EI MS2671A KSDII KSD2 MS2671B KSD11 MS2673Ⅰ FPKII HZKLT2II HZKLT2118 BJD1II XUSII MS2673 BSLSⅡ CS03 MS2671BIV CS04 KLSⅡ LLP6AL MS2675DN MS2675D XJMKSII KS02 YHLSX MS2675DI MS2675DII KLT2N1 KS03 KS04 S6A MS2675DIIB YHL4 YHL1 MS2675DIII MS2675DIV EXKLT22 JX2 YFBLKT21 GRB17088 MS2675B GRB19150 MS2675C GRB19670 MS2520CN XTDLS S8A XTDZLB S10A MS2520A XTDSH S15A MS2520B S20A MS2520C S25A MS2520D S30A KFL814E

XP-703D

XP-703D半导体特气检漏仪（自动吸引式）

XP703D