技术参数　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
机台型号
 EM4030
 EM3020 
(X/Y/Z)量测行程
 400×300×200(mm) 300×200×150(mm)
机台承重量
 30KG  30KG
操作方式 手动
驱动方式
 无间隙摩擦传动(可切换快速移动)
放大倍率
 Step Zoom 光学放大倍率0.7-4.5X影像放大倍率28X-180X
底座/立柱
 高精度花岗石
灯源
 LED单相背光,面环光
量测系统
 几何量测,影像量测,手动对焦,手动编程批量检测
电源供给
 110V-220V ±5％ 60HZ
精度补偿
 非线性补偿,(X/Y轴采用标准玻璃光栅尺,Z轴采用阶级规)
光学尺解析度
 1um
X/Y/Z轴线性精度
 (3+L/200)um
X/Y轴量测精度
 ±2um
z轴对焦高度量测精度
 0.02mm(光学放大倍率4.5)
重复性
 ±2um
CCD
 彩色SONY CCD
电脑配置 P4 PC+内存256MB
适合环境 温度 20-25摄氏度
湿度 50％-60％
 
 
 

 
 
 测量软件
一、影像量测: 
1、透过CCD取像至电脑屏幕,可直接於屏幕上进行物体影像处理,提供自动寻边工具,鼠标直接点取,影像自动抓取图形量测数据.
2、完善的影像量测工具,提供多种量测方法手段:点、线、圆、弧可直接点取量测，框选范围量测，多点取图量测,套用图形格式又叠合量测，十字线取点量测，配有脚踏开关。
 
 
二、几何量测：
1、基本几何元素测量：点线、圆、弧、角度。
2、组合元素测量：圆心距、圆切线、两线中心线、中心点，垂直距离、角平分线、两线交点。
3、形位误差评定：同心度，真圆度、真线度、位置度、倾斜度、对称度。
4、定位量测：设定圆点坐标、坐标定位、旋转、偏移、补正。
 
 
三、二维抄数 
二维图形抄数：只需鼠标轻轻一点，图形自动寻边找点，操作简单，速度快，
图形可输出到AUTOCAD（*.DXF）处理图形。