RTS-9双电测四探针测试仪

RTS-9双电测四探针测试仪因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响进行动态的自动修正，因此显著降低了几何因素影响，从而提高了测量结果的准确度。所有这些，用目前大量使用的常规四探针测量方法所生产的仪器是无法实现的。

采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换，在计算机控制下进行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。

RTS-9双电测四探针测试仪特点：

Ø 采用最新电子技术进行设计

Ø 自动消除样品几何尺寸、边界效应

Ø 具有功能选择直观

Ø 测量取数快

Ø 精度高、测量范围宽

Ø 稳定性好

Ø 结构紧凑、易操作

行业应用

Ø 半导体材料厂

Ø 半导体器件厂

Ø 科研单位

Ø 太阳能电池板生产厂家

Ø 高等院校对半导体材料的电阻性能测试

RTS-9双电测四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序。测试程序在计算机与RTS-9型四探针测试仪连接的状态下，通过计算机的并口实现通讯。测试程序控制四探针测试仪进行测量并实时采集两次组合模式下的测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析。

RTS-9双电测四探针测试仪技术参数：

电阻率测量范围	10^-4～10⁵ Ω.cm(可扩展)
方块电阻测量范围	10^-3～10⁶Ω.cm (可扩展)
电导率测量范围	10^-5～10⁴ s/cm
电阻测量范围	10^-4～10⁵ Ω
可测晶片厚度	≤3mm
可测晶片直径	140mmX150mm(配S-2A型测试台)
	200mmX200mm(配S-2B型测试台)
	400mmX500mm(配S-2C型测试台)
恒流源	电流量程分为1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六档，各档电流连续可调
数字电压表量程	000.00～199.99mV
分辨力	10μV
输入阻抗	>1000MΩ
精度	±0.1%
显示	四位半红色发光管数字显示；极性、超量程自动显示
四探针探头间距	1±0.01mm
针间绝缘电阻	≥1000MΩ
机械游移率	≤0.3%
探针	碳化钨或高速钢Ф0.5mm
探针压力	5～16 牛顿(总力)
四探针探头应用参数	(见探头附带的合格证)
模拟电阻测量相对误差 ( 按JJG508-87进行)	0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字
整机测量最大相对误差	(用硅标样片：0.01-180Ω.cm测试)≤±4%
整机测量标准不确定度	≤4%
计算机通讯接口	并口
标准使用环境	温度：23±2℃；
	相对湿度：≤65%；
	无高频干扰；无强光直射；

上海均量实业有限公司

晏云飞

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关键词：元件分析仪，安规测试仪，电源供应器，扭矩扳手，台式示波器，过程压力校验仪。

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