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★测量速度:6.5ms/10ms/21ms
★测量参数:C-D,Q,ESR,G
★C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
★0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent
技术指标:
测量参数 |
C-D,Q,ESR,G |
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测试信号 |
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频率: |
1kHz和1MHz±0.02% |
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信号电平: |
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进 |
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测量时间: |
6.5ms/10ms/21ms(典型值) |
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测量范围 |
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电缆长度补偿 |
0,1或 |
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比较器: |
对电容的10仓室分类,对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试 |
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存储卡插槽 |
外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用(存储卡可任选,参见下面的选件004)。 |
一般技术指标:
工作温度/湿度 |
5°~ |
电源 |
100,120,220Vac±10%,240Vac+5-10%,48~66Hz,200V |
尺寸 |
约 |
订货信息:
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Opt W30 扩大的维修服务
Opt 001 只1kHz测试频率
Opt 002 只1MHz测试频率
Opt 003 1%的频率漂移;
要防止当元件测试接触靠近测试装置时可能出现的测试信号干扰
Opt 004 存储卡
Opt 005 -1%频率漂移
Opt 006 +2%频率漂移
Opt 101 GPIB兼容性
Opt 201 处理器接口
Opt 202 处理器接口
Opt 301 扫描器接口
可提供的附件:
- 询价产品:LCR测试仪 HP4278A|HP4278A|HP4278A|HP4278A
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