自动椭圆偏振测厚仪
规格与主要技术指标:
测量范围:薄膜厚度范围1nm-4000nm 折射率范围:1-10
测量最小示值:≤1nm 入射角:20°- 90°精度≤0.05°
度盘刻度:每格1度 允许样品尺寸:φ10-φ140mm,厚度≤16mm
偏振器步进角:0.014°/步 偏振器方位角范围:0°- 180°
测量膜厚和折射率重复性精度分别为:0.5nm和0.005
仪器测量精度:±0.5nm(薄膜厚度在10-100nm时)
光学中心高度:80mm
成套性:主机、电控系统、USB接口、配套软件(需配计算机)
主机重量:26kg 外形尺寸:680*390*310mm