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技术参数
技术指标
二次电子分辨率 1.0nm (15 kV);2.0 nm (1 kV)
背散射电子分辨率 3.0nm (15kV)
电子光学:
电子枪 冷场发射电子源
加速电压 0.5~30kV(0.1KV/步,可变)
放大倍率 x 20~ x 800,000
物镜光阑 4孔,真空外选择和调校(内置加热器)
检测器 二次电子检测器 (高位/低位)
背散射电子检测器(可选)
EDX(可选)
透射电子检测器(可选)
法拉第杯(可选)
阴极荧光检测器(可选)
样品台 l型:
X: 0~50mm Y: 0~50mm
Z:1.5~30mm T: -5~+70°R:360°
驱动:手动(可选3轴驱动)
ll型:
X: 0 ~110 mm Y: 0 ~110mm
Z: 1.5 ~40 mm T: -5 ~+70°
R: 360°驱动:PC机控制5轴驱动
图像显示
操作/显示 PC/AT 兼容,
操作系统: WindowsTM 2000
18.1" 平面显示器
扫描模式 标准,Split/dual mag./line scan, position
set, spot, AAF, SAA, oblique
画面储存 640 x 480, 1,280 x 960,
2,560 x 1,920,5,120 x 3,840
图像编辑 内置图像处理软件和图像编辑软件
图像文件格式 BMP, TIFF, JPEG
扫描速度 TV, 慢速 (0.5 ~ 40 s/帧) 用于观察
慢速 (40 ~ 320 s/帧) 用于记录
成像过程 自动调节亮度和对比度
光栅旋转,自动聚焦,自动像散校正,
平均,帧积分,伪彩色显示
自动数据记录 胶卷号,加速电压,微米标尺,放大
倍率,日期,时间,工作距离
电子图像移动 ±12µ ( W.D. = 8 mm)
真空系统 完全气阀自动调节
离子泵 3 台
TMP 1 台
RP 1 台
主要特点
1. 新型物镜采用专利的ExB设计。使用单检测器和超级ExB可以分别收集和分离单纯二次电子、混合二次电子及背散射电子的信号。
2. 1KV低加速电压时保证有2.0nm的分辨率。
3. 两种样品台可选:Ⅰ型50mm×50mm小样品台或Ⅱ型110mm×110mm大样品台,采用图形界面软件用计算机控制,5轴驱动。
4. 包括涡轮分子泵在内的先进的真空系统。
5. 根据用户的意见而设计新的图形用户界面使得S-4800成为现今最先进、用户友好的扫描电子显微镜。
- 询价产品:Hitachi(日立)S-4800冷场发射电子显微镜 日立S-4800
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