红外热像仪 Ti 20

Fluke Ti 20 热成像仪

为各种工业维护应用场合带来了划时代的性能

Fluke Ti 20 热成像仪 在热成像领域中树立了卓越性价比的光辉典范，显著降低了用户利用这一强大技术的门槛。 Fluke Ti 20 热成像仪 设计用于众多的工业应用场合，为精通装置及设备的服务和维护人员带来了强大的热成像功能。

Fluke Ti 20 热成像仪垂手可得的热成像
凭借单手控制的“一指通”操作和直观的屏显指南，Ti20 热像仪非常易于使用，不需专业培训便可进行准确的测量。只需指向目标，对焦仪器，它就会自动调整温度范围来显示清晰鲜明的图像。一旦用户扣动扳机，便会存储图像及相关的测量数据。通过随附的软件，用户可以随心更改主要图像参数，从而优化图像和抽取最多的细节，而无需返回工厂车间重新扫描。

Fluke Ti 20 热成像仪安全方便地识别问题并缩短意外的停机时间

随时提供非接触式的温度图像，快速确定热点
全面的辐射范围实现详细的温度分析和跟踪关键组件
配备 InsideIR 软件的综合解决方案允许用户方便快速地分析、报告和设定路线
宽大彩色液晶显示屏显示清晰亮丽的图像以及数据和路线指示

Fluke Ti 20 热成像仪专为工业用途打造的卓越性能

革新的探测器技术提供清晰的热图像且准确地测量温度
350 °C 的测量上限涵盖了众多的工业应用场合
防尘和防潮的优异保护性能（符合 IP54 标准）可以从容应对各种恶劣的工业环境
每次电池充电均可保证连续 3 小时的操作

Fluke Ti 20 热成像仪技术指标

热参数

探测器类型：	128 x 96 热敏元件焦平面阵列 (FPA) 非制冷微量热型探测器
准确度：	±2% 或 ±2oC（取大者）
准确度（-10 至 0 C）：	+/- 3oC
重复性：	±1% 或 ±1oC（取大者）
NETD：	200 mK
温度显示分辨率：	0.1 oC

光学/红外

光谱范围：	7.5-14 微米
目标瞄准：	单波长激光点（符合 lEC 2 类及 FDA II 类要求）
光学分辨率：	75:1
测量圆点最小直径：	8.1 mm（距离为 61cm 时）
视场 (FOV)：	20o 水平 x 15o 垂直

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