JW-K型氮吸附比表面积及孔径分布分析仪

技术参数如下：
孔径分析仪主机功能： （1）吸（脱）附等温曲线测定
                     （2）孔径分布测定
                     （3）BET比表面测定，并可测定吸附常数C 值
                     （4）比表面快速测定（直接对比法）
孔隙率测定仪测定范围：   （1）孔径：2nm～200nm           (2) 比表面：0.1~3500㎡/g
孔隙度分析仪测量原理：    动态常压连续氮吸附法（国内首创）
比表面积仪气体：        高纯氮（99.99%）、高纯氦（99.99%）
比表面测定气体流量：    ≤100mL/min
比表面测定流量控制：    稳压稳流系统，高精度流量传感器，数字显示，显示精度0.1%
比表面测定测量压力：    常压
比表面积测定仪氮气相对压力：调节范围  0.05-0.98
比表面积仪测量重复精度：≤±3%
二、比表面积及孔隙率测定仪产品特点
a)   采用氮吸附方法，在一台仪器中实现更多的测试功能；
b)   动态法对测试过程十分直观，可以看到不同氮分压条件下，氮吸附和脱附的全过程；
c)   采用了最先进的技术，从压力到流量实现氮气分压从0至100%的全程精确控制，孔径测试范围可从2nm至200nm；
d)   气路系统的巧妙设计，无须任何复杂的程序即可实现各种测量方法和功能的选择。
e) 样品种类：  纳米材料，氧化物，氧化硅，氧化锆，催化剂、钴酸锂、锰酸锂、正极材料、锂电池、纤维及其它可装入U型样品管样品
精微高博公司研制JW系列静态容量法及动态法比表面积分析仪
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