L-90叶面积测定、根系分析、年轮分析系统是一种方便、可在野外使用的叶面及年轮分析仪器。可精确、快速、无损伤地测定叶片的叶面积及相关参数，可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量，还可以进行叶片颜色分析和树木年轮分析（根系分析可选）

L-90叶面积测定、根系分析、年轮分析系统广泛应用于农业、林业、气象等部门。其植物年轮分析模块可用于树木年代学、年轮生态环境变化学、年轮气候学、地理科学、考古学研究。

主要功能:
叶面积分析测量参数：
叶片面积（或累计面积)
叶子穿孔面积 (或累计面积)
叶片长度和宽度、叶柄长度、叶周长 (不受叶片孔洞影响)、叶片周长
叶片长宽比、叶片形状系数、自定义长度和角度测量
叶片锯齿高度、宽度、数量测量，叶孔面积测量；
包膜（齿-齿之间的直线长度和），包膜形成的投影面积
不规则叶片形态分析，真彩病理分析
叶片颜色专业分析

技术指标:

最大分析测量面积： 30mm x 20mm ;

分辨精度：0.05mm²；

可测量单叶和多叶的参数，以及各类树种的年轮参数；

测量总时间：60秒。
附加功能：自带标定功能，可实现半自动的尺寸标定及全自动的亮度标定；数据处理：
数据存储：图像和测量结果以数据库存储(通过PC)；
数据导出：测定结果以Excel表和Word文件导出；

打印报告及编辑：可提供报告编写、修改输入、打印预览；打印图片。
仪器规格与选配：L-90野外便携式扫描仪主机(通过USB接口供电)。
仪器尺寸： 360mm×250mm×40mm;    

重  量:1.6公斤.

树木年轮测量分析参数：
可自动判读树木年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积。可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界，以及识别出很窄的树轮，可交互删除伪年轮、插入断年轮。可分析年轮线间对比较强的针叶树种和年轮线间对比弱的落叶树种；交叉定年，生成年表，数据分析处理，含回归分析、相关性分析。

根系分析（可选部分，另外收费）
植物根系可分析测量：
1)根总长；2)根平均直径；3)根总面积；4)根总体积；5)根尖计数；6)分叉计数；7)交叠计数；8)根直径等级分布参数，等。匹配专门的双光源照明系统，提供高分辨率的彩色或黑白图像，去除了阴影和不均匀现象的影响，有效保证图像质量。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等，可读取TIFF、BMP、JPEG标准格式的图像。

产地： 上海SINTEK