元器件测量仪(L 4263B

4263B电桥LCR测试仪产品简介: 基本精度为0.1% 测试频率为100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz 量程为20mV～1Vrms,以5mVrms分档具有测试信号电平监视功能高速测量:25ms 高速接触检查大的电容测试量程变压器参数测量(供选用) Alilent 4263B LCR测试仪是Agilent公司生产的最价廉物美的低档LCR测试仪，供生产线上的元件评估和实验室中的基本阻抗测试使用。4263B具有能在正确状态下对测试进行模拟的5个测试频率，即100Hz，120Hz，1kHz和100kHz。在这5个频率之外还可增添供选用的20kHz测试频率（选件002）。高速测量 Agilent 4263B依靠在任何测试频率上都有25ms的测量速度来提高一产率，这种能力提高了电解电容顺和变压器测试的效率，4263B能检查测试端子与被测件（DUT）之间的接触状况，这种功能保证在生产中用自动处理器进行合格。不合格的测试的可靠性，有故障的被测件一旦从处理器中取去该仪器便能立即恢复正常工作，因此处理器始终能以最高速度工作。电解电容器测量 Ailent 4263B的精度和宽的测量范围是对电解电容器进行精密测量的很好保证。充电后的电容器可能经常端放电，从而使仪器损坏。4263B的前端设计考虑了保护作用，能保持测试正常进行。变压器参数测量由于Ailent 4263B能进行匝数比（N），互感（M）和直流电阻（DCR）测量，故数据计算和改变测试装置不再是费时的工作（选件001）灵活的信号电平高速和电压、电流监视功能使4263B特别适用于测量与电平有关的被测件，始磁芯电感器。技术参数测量功能测量参数 |Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR 选件001 增加DCR（直流电阻），N（匝数比）和M（互感）测量测量电路形式串联和并联数学功能偏差和百分偏差测试电缆长度 0m,1m,2m,4m,(频率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(频率=10kHz/20kHz);0m,1m(频率=100kHz) 测试信号数据测试频率 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz 选件002 增加20kHz测试频率频率精度 ±0.01%（频率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV) 输出阻抗 100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程）交流测试信号电平 20mV~1Vrms,以5mVrms分档精度 ±（10%+10mV) 内部直流偏置电平 1.5和2V；精度：±（5%+2mV) 外部直流偏置 0~+2.5V 测量范围参数测量范围 |Z|,R,X 1mΩ-100MΩ |Y|,G,B 10nS-1000S C 1pF-1F L 10nH-100kH D 0.0001-9.9999 Q 0.1-9999.9 θ -180°~+180° DCR 1mΩ-100MΩ N 0.9-200（待定） L,M 1μH-100H（待定） Δ% -999.99%-+999.99% 测量精度： ±0.1%(基本精度）（适用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL) 测量时间模式时间（典型值）短 25ms 中等 65ms 长 500ms 测试信号电平监视器电压和电流前端保护当充电电容器连接到输入端时内部电路便函起保护作用。最大电容器电压为；在 Vmax≤250V时，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V时，Vmax=√(2/C)(典型值），C单位为F。显示数字 3，4或5位（可选择）修正功能开路/短路误差为0 消除由测量夹具中杂散寄生阻抗引起的测量误差负载利用一个已校器件作为参考来改善测量的精度比较功能对每个一次测量参数和二次测量参数给出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比较结果接触检查功能可以检测测试夹具与器件之间的接触故障。接触检查的附加时间为5ms 其它功能存储/调用可以存储和从内部非易失存储器调用10个仪器设置连续存储功能若仪器补关断或出现电源故障。仪器设置（直流偏置接通/切断除外）将自动被存储起来（在23°±5℃下≦72小时） GPIB接口所有控制设置，被测值和比较器信息处理器接口所有输出信号均为负逻辑，光隔离的开路集电极。输出信号包括HIGH/IN/LOW，不接触，序号，测量结束和报警。输入信号包括键锁定和外触发电源要求 90-132V或198-264V，47-66Hz，45VAmax 工作温度 0-45℃ 尺寸 320mm(宽）*100mm(高）*300mm(长）（12.6英寸*3.94英寸*11.81英寸）重量： 4.5kg(9.9磅）主要技术资料 263B LCR测试仪产品介绍，p/n 5964-6181E 有效电解电容器测试，p/n 5967-5378E 有效变压器/低频线圈测试，p/n5967-5377E