线性集成电路智能参数分析仪ＳＩＭＡ３１９８

产品特点：

概述
SIMI-3198线性集成电路智能参数分析仪是继SIMI—100数字集成电路多值逻辑测试仪之后向
国内外市场推出的又一新品。它融合了国内外同类产品的诸多优点并有所创新。是一种智能
化程度极高的新一代线性集成电路测试仪。它可对通常使用的单运放及多运放、比较器等
进行快速测试。
它具备以下特点：
1．根据IC型号自动切换测试，无需人工转接线更换测试盒。
2．具有自校准功能，测试参数基准稳定。
3．测试参数值读取快洁、直观。
4．测试操作简单。
5．它可以对线性IC的11项交直流参数进行测试及功能测试。
6．提供自适应测试方式：以样片为基准，对同型号IC 进行筛选测试进行快速筛选。

主要技术指标

    3．1 额定工作条件及规格：
          整机功  耗：          35W
          电        源：          220V/AC   50HZ
          使用环境温度：          5─35
          相对湿  度：          45%RH
          重        量：          5.5kg
          外界电磁干扰：          避免

　　技术规格：

3．2 测试内容：

测试内容见下表：

序号	测试参数	单位	误差
1	失调电压 Vio	mV	<5%
2	失调电流 Iio	nA	<5%
3	偏置电流 Iib	nA	<5%
4	静态功耗 Pd	mW	<5%
5	开环增益 Avd	db	<5%
6	共模抑制比 Kcmr	db	<5%
7	输入电阻 Rid	KΩ	<10%
8	输出电阻 Ros	Ω	<10%
9	增益带宽积 Gbw	KH	<5%
10	电源电压抑制比 Ksvr	db	<5%
11	输出电压峰--峰值 Vopp	V	<5%
12	压摆率 Sr	V/us	<10%

3．3 测试内容说明

·静态工耗是在测试电压为± 8V下测得（个别特殊比较器在+12V/-6V下测

得）。

·对于自适应测试，比较误差小于5%

·失调电压测量范围：100uV─100mV，

Vos 超过 100mV 时，认为功能失效；

|Vos| 在2mV─100mV之间，相对误差<3%；

|Vos| 在0.1─2mV之间，相对误差<6%失调电流。

·偏置电流测量范围： Ios，Ib >10nA时相对误差<3%；

Ios，Ib<10nA相对误差<8%；

Ios；Ib<0.5nA，相对误差较大。

·静态功耗测量范围：0.3─180mW、Pd>10mW，相对误差 <3%

·输出电阻测量范围：25─2.5k，分辨率为5Ω

·输入电阻测量范围：20KΩ─15MΩ，分辨率KΩ

·输入电阻高于15M的芯片不测此项参数，若“错敲”键入型号，如测LF347

而键入“342”（LM324），所测的输入电阻是不真实的。

·压摆率为扩充测试项。