X-Strata 960 X荧光射线测厚仪,可快速测定各种材料构成的多层镀层厚度。长寿命100瓦微焦点X射线管(其他测厚仪为50瓦)。比CMI900可以提高30%分析精度或者减少50%的分析时间,三种样品台可供选择:程控XYZ轴:300 x 200 x 230mm;手动XY轴:250 x 250mm+230mm程控Z轴;固定位置样品台,最大高度230 mm更小准直器,测量更小区域:最小直径15um圆形准直器,20x/80xCCD图像放大倍数自由距离测量DIM:更灵活地测量不规则样品(凹凸),在12.5~102mm自由聚焦范围内可准确聚焦样品表面任意测量点。并有自动雷射聚焦功能 一体机工作站式设计,简化设备安装,减少占用 空间。