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产品特点:
全自动双折射测量系统 ABR-10A ( 高解析度、高速型 ) 双折射系数的线性解析度高达 0.01nm ; 可同时测量延迟轴和主轴两个方向; 基于光学相位差的双折射系数显示; 一秒采样时间; 应用: 液晶显示屏膜; 聚合物膜的取向; DVD 和 CD 光学系统组件; 由于薄膜和基材之间热膨胀系数不同引起的应力; 某些透明材料的内部残余应力,如光学玻璃和塑料; 某些透明材料的热应力; 光弹性系数; 全自动双折射测量系统 ABR-22( 自动测量线性和周向双折射系数,高速型 ) 特点: 可同时或独立测量线性和周向双折射系数; 无需样品旋转,即可测量主轴和延迟轴的线性双折射系数、圆周双折射系数的旋转角; 一秒采样时间; 可选样品旋转台; 二维或三维显示 双折射系数的线性解析度高达 0.01nm ; 可全自动操作; 应用: 液晶显示屏 (TN, STN) 的双折射分布 ; 液晶显示屏 (TN, STN) 的双折射系数与电压的关系; 电-光学器件 ( 如: Pockel 效应、 Faraday 旋转、 Kerr 旋转等 ) ; 光学晶体研究; 聚合物膜研究; 全自动双折射测量系统 ABR-30( 超高速型 ) 特点: ABR-30 可以实现双折射系数的高速测量: 100 微秒; 维护成本极低; 二维或三维显示; 可选样品旋转台; 操作方便; 应用: 在静态和高速旋转速度下进行光学储存器件表征; 动态双折射研究 ( 如液晶、高分子 ) ; 对某些透明材料的热冲击; 动态光弹性系数; 光学相位调制器;
技术指标:
测量项目: 延迟/光程差 主轴方向
Re 位相差
測定範囲:0~260nm (0~150deg.) 0±90deg.
分解率: 0.01nm (0.006deg.) 0.1deg.
±0.5nm (±0.3deg.)
±0.5deg.
重复性: +/-0.01nm +/-0.02 °
+/-0.1nm +/-0.2 ° +/-0.1 °
测量时间:About 1 sec/point (including time of
measurement for direction angle)
Optional : It can be measured with the Range
0 to 180 °. Resolution(150-180 °.)
: +/-0.1 °.
UPPER : The 3s value for measured result with vacant sample (retardation = zero)
LOWER : The 3s value for measured result with QuarterWavePlate as the sample
where s is standard deviation.
- 询价产品:双折射测试仪 双折射测量系统
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