金属，半导体阻抗测定装置TER系列

                                         对于金属的相变，时效析出，再结晶反应

本装置是用直流四端子法，精密地测量金属合金，半导体的电阻。

●用途

对于金属相变，时效析出，再结晶的过程研究。
对于无形金属的再结晶的过程分析。
对于记忆形合金的研究。 
测定各种半导体材料的温度VS电阻的关系。

●特长

可在定速升温，定温保持过程中测量材料电阻。 
用直流四端子法进行高精度测量。 
无热起电的影响。

●技术指标