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ED2000采用全数字化电子线路设计,其紧密耦合的X射线光学系统和Pentafet探测器专利技术实现了最高的计数率、最佳的分辨率和最低的检出下限。如分析土壤中的有害重金属元素Cd时,检出下限可达0.5ppm。
Pentafet专利技术克服了能量色散技术中,元素分辨能力随计数率增高而下降的缺点,即使在较高计数情况下,仍可以得到优良的元素分辨率。ED2000数字化电路技术提高了信号处理速度,缩短了分析时间。ED2000的最大计数率高于50,000cps;在17,000cps计数率的情况下,分辨率优于140eV。
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